刚玉陶瓷系列
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工业陶瓷系列
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硅碳元件检定法存在的问题
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发布日期： 2012/7/10 浏览次数： 995 |
| 随着科学技术的发展，硅碳棒自动化水平在不断提高，热处理行业对测温精度的要求越来越高，尤其是“热处理炉有效加热区测定方法”中，对Ⅰ类炉的保温精度高达±3℃[1]。为了确保温度量值的准确可靠，对新制或使用中硅碳进行定期或不定期检定是十分必要的。当前，国内仅有硅碳、补偿导线及仪表各自的检定规程，但是，没有硅碳高温计等测温系统的检定规程。因此，对于测温系统的检定，只能采用分立元件法，即对构成测温系统的元件及仪表分别进行检定。此种检定方法是离线的，而且，不能对测温系统进行在线整体检定。对于广泛应用的各种硅碳数字温度计的检定，尚无国家标准。因此，本文将对热处理行业用硅碳测温精度进行分析，并提供相应的解决办法。关于测温系统的检定方法，目前有如下2种方式：分立元件检定法与整体校准法。依据国家标准，对硅碳的检定，应在计量室进行。硅碳棒在计量室检定时，按规程要求，插入检定炉内的深度只有300mm。因此每支硅碳的检定结果，确切的说只能体现或主要体现出从测量端开始300 mm长偶丝的热电行为，然而，当硅碳的长度较长，使用时大部分偶丝处于高温区，如果硅碳丝是均质的，那么依据均质回路定则，测量结果与长度无关。可是，硅碳丝并非均质，尤其是廉金属硅碳丝其均质性较差，如果硅碳丝不均质又处于具有温度梯度的场合，那么其局部将产生热电动势，该电动势称为寄生电势，由寄生电势引起的误差称为不均质误差。硅碳棒这种离线式检定方法存在如下问题。经计量室检定合格的产品，在现场使用条件下通常是合格的，但是在有些场合下检定合格的产品，在现场使用条件下却不合格。这种现象鲜为人知，未引起人们重视其影响因素如下。 |
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